• Thermo Scientific, ARL 3460 OES                                                                                        

     Teknik Özellikler için tıklayınız

• Elementel Analiz
• Kararlılık, düşük analiz limitler ve doğruluk.
• Ultra saftan yüksek alaşımlıya kadar bütün alüminyum alaşımları yüksek hassasiyette (1/100000) analiz edilebilmektedir.

• Temiz ve düz yüzeye sahip ve tel numuneler için minimum çap 3 mm olmalı.   

Discovery SDT 650 ile malzemelerin ağırlık değişimi ve ısı akışı eş zamanlı olarak sıcaklık ve/veya zamanın bir fonksiyonu olarak ölçülebilmektedir. Polimer, polimer kompozit malzemeler için nem, uçucu bileşenler ve katkı malzemesi miktarları belirlenebilmektedir.

• ​TA, Discovery SDT 650                                                                                  

      Teknik Özellikler için tıklayınız 

• Ergime noktası
• Ağırlık değişimi
• Faz dönüşümü
• Isı kapasitesi (Cp) ölçümü (ortam sıcaklığı-1500 °C aralığında)
• Camsı geçiş, kristalizasyon, bozulma sıcaklığı
• Kül oranı ve katkı miktarı
• 1500 °C'ye ulaşabilen fırın sıcaklığı (Sıcaklık Kalibrasyonu Curie Noktası (ASTM E1582))
• Dinamik sıcaklık hassasiyeti ± 0,5 °C
• Isıtma hızı (doğrusal) 0,1 ila 100 °C/dakika
• Kalorimetrik doğruluk/hassasiyet ± %2 (metal standartlarına göre)
• Isı kapasitesi doğruluk ± %5
• Tartı doğruluğu ± %0,5
• Tartım Hassasiyeti ± %0,1
• Ağırlık Baz Çizgisi Kayması [1] <50 μg ila 1000 °C ve <50 μg 1000 ila 1500 °C
• Modüle DSC

Numune Özellikleri:

• Katı malzemelerden oluşur ve numune ağırlığı maksimum 200 mg olmalıdır.

• Testometric                                                                                                   

   Teknik Özellikler için tıklayınız                                               

• Yük aralığı: 0-100 kN      
• Ölçüm aralığı: 0.400 kN-100 kN
• Cihaz kapasitesi: 100 kN
• Cihaz hassasiyeti: 0.01 kN
• Test hızı: min 180 mm/dk
• Tam otomatik ekstansometre mevcuttur.
• Sıcaklık kabininde -50⁰C +250⁰C aralığında çalışma mümkündür.
• Tam otomatik ekstansometre kullanımı esnasında  -50⁰C +250⁰C sıcaklığında kullanım sağlanmaktadır.
• Eğme çeneleri aralığı 10 mm'dir. 
• İki çene arası 300 mm'e kadar ayarlanabilir.
• Kabin ölçüleri; 300 genişlik, 700 yükseklik, 300 uzunluktur. 
• Kabin raylı sistem ile kolay hareket etmektedir.

Numune Özellikleri:

1. Metal, polimer, seramik ve mompozit malzemeler gibi birçok farklı malzeme
2. Numune boyutları ISO 6892 standardına göre belirlenmeli. 

• HELIOS 5 CX FIB-SEM

Teknik Özellikler için tıklayınız

• SEM tabanlı yüksek çözünürlüklü yüzey görüntüleme                                          
• FIB ile lokal kesitleme ve numune hazırlama
• Mikroyapı ve faz analizleri
• Kaplama, ince film ve arayüz incelemeleri
• TEM lameli hazırlama
• FIB-SEM (Odaklanmış iyon ışını + taramalı elektron mikroskobu)
• Elektron Işını Performansı
• Optimum WD’de çözünürlük:
• 0,6 nm - 30 kV (STEM)
• 0,6 nm - 15 kV
• 1,0 nm - 1 kV
• 0,9 nm - 1 kV (ışın yavaşlaması ile)
• Çakışma noktasında çözünürlük:
• 0,6 nm - 15 kV
• 1,5 nm - 1 kV (beam deceleration ve DBS ile)

• XRD

  Teknik Özellikler için tıklayınız  

• Bilinmeyen örneklerdeki kristal fazların tanımlanması
• Oran tayini (Rietveld analizi ile)
• Kristal Boyutu & Mikrogerilme (Şerrer formülü ile tahmin)
• Kristal düzlemlerinin yönelim analizi
• Özgül yönlerdeki iç gerilmelerin belirlenmesi (Artık Gerilme Ölçümü)
• İnce film karakterizasyonu (Kalınlık, gerilme, fazlar, epitaksiyel yapı)
• Gerilim-Stres analizi,Faz tanımı,Rietveld analizi yapılmaktadır.
• Bakır (Cu) ve Kobalt (Co) tüp ile çalışmakta olup min. gücü 1.5kW
• -10° ile +150° aralığında açısal tarama yapılmaktadır
• 5 Eksenli Stage ile tarama (x,y,z,chi,phi)  
• Dönerek test ile daha detaylı bir analiz sonucu 

• Numune Özellikleri:

Metal ve metal alaşımı numuneleri, seramik ve kompozit malzemeler (FIB-SEM)

Toz: Ø10–25 mm, 1–5 mm; Bulk: ≤30×30 mm, <10 mm (düz yüzey); İnce film: Ø10–25 mm substrat; Metal: Ø10–20 mm, <10 mm; Seramik/Cam: Ø10–25 mm, <5–8 mm (XRD)