loading-icon
logo

İleri Karakterizasyon Laboratuvarı

 

 

  • Analiz Adı: 
  • Cihaz
  • Analiz Detayı
  •  
  • FIB-SEM 
  • Sahip olduğu dedektörler:
  • İkincil elektron detektörü,
  • Geri saçılan elektron detektörü,
  • Everhart-Thornley SE dedektörü,
  • Dairesel pnömatik geri çekilebilir minimum 5 segment geri saçılma dedektörü
  • -EDS Dedektörü
  • -EBSD dedektörü
  • -FIB kolonu
  •  
  • Kurulum aşamasında
  • XRD                                                                                                                                                                                                            
  • Toz analizi
  • Kalıntı gerilim analizi
  • Faz tanımı
  • Rietveld analizi
  • Kutup figürü
  • Dikeu gonyometre θ/θ konfigürasyonunda çalışacak.
  • Kristallik derecesi tayini
  • Kombine XRD-XRF analizi
  • Bütün toz desen ayrışması
  • Mikro yapı analizi
  • Kantitatif faz analizi
  • Ortak arıtma
  • Absorpsiyon kenar modellemesi
  • Çift dağılım fonksiyonu (PDF) analizi
  • Kurulum aşamasında
  • Numune Özellikleri: 
  • Test Standartları: