•  Mitutoyo SJ-500 Yüzey Pürüzlülük Cihazı                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                        

                Teknik Özellikler için tıklayınız

• Yüzey pürüzlülük ölçümü
• Sadece x ekseni yönü ardışık izleme
• X ekseni ölçüm uzunluğu max 50 mm
• Uygulanan ağırlık 2.7 kg.
• Hız aralığı 0 – 20 mm/s
• Analiz türleri; Alan, Daire, Açı, Koordinat farkı, Adım, Eğim
• Değerlendirme Parametreleri; Ra, Rc, Ry, Rz, Rq, Rt, Rmax, Rp, Rv, R3z, Sm, S, Pc, mr (c),δc, mr, tp, Htp, Lo, lr, Ppi, HSC, Δa, Δq, Ku, Sk, Rpk, Rvk, Rk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, λa, λq, R, AR, Rx, W, AW, Wx, Wte.       

• Numune yüzeylerinin paralel olması.

• IVIUM Vertex.EIS.1A/10V 

          Teknik Özellikler için tıklayınız

• Korozyon Testi

Potansiyostat Özellikleri

• Uygulanan potansiyel aralığı 0.333mV, çözünürlük ±10V,
• Uygulanan potansiyel doğruluğu 2mV.
• Akım aralıkları 9 aşamada ±10nA den ±1A aralığındadır.
• Ölçülebilen akım çözünürlüğü %0,015 akım aralığında minimum 15pA dır.

Cihazın Galvonastat Özellikleri

• Uygulanan akım çözünürlüğü %0,033.
• Uygulanan akım doğruluğu %0,2.
• Potansiyel aralıkları ±10mV, ±100mV, ±1V, ±10V.
• Ölçülen potansiyel çözünürlüğü %0,004 

Sweep Teknikler

Transient Metodlar

Elektroanaliz Teknikleri

İmpedans Ölçümleri

Korozyon Ölçümleri

• ZEISS Axio Lab. A1 ters metal mikroskobu

          Teknik Özellikler için tıklayınız

• Tane boyutu sayımı ve dağılımı,
• Çoklu faz tespiti ve dağılımı,
• İnlukzon analizi,
• Karanlık alan,
• Aydınlık alan çalışmaları yapılabilmektedir.

• Dijital Mikroskop                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                   

• Brightfield (BF), darkfield (DF) ve -POL kontrast yöntemlerine sahip

• Cihaz, numune yüzeyinin 3 boyutlu tarama yapmaktadır. 2D ve 3D yüzey profilleri üzerinde uzunluk, açı, yükseklik, çap, yarıçap, dikdörtgen, daire, poligon, alan, mesafe, profil, hacim vb. ölçümleri yapabilmektedir.

Cihaz,

• 0,5x/0,03 (FWD 78 mm) plan apokromatik objektif lensi,

• 1,6x/0,1 (FWD 36 mm) plan apokromatik objektif lensi,

• 5,0x/0,3 (FWD 30 mm) plan apokromatik objektif lensi 10,0x/0,6 (FWD 10 mm) plan apokromatik objektif lenslerine sahiptir.

Cihaz aşağıdaki analiz modüllerine sahiptirr:

• ISO 643'e göre tane boyutu ölçümü; ASTM E112 ve ASTM E1382.

• ISO 945'e uygun faz analizi ve partikül dağıtım modülü ve Grafit modülü.

• ISO 643'e göre karşılaştırmalı diyagramlar; ASTME 112; Metalik olmayan içerik (NMI): ISO 4967; EN 10247, ASTM E45; DIN 50602, Grafit: ISO 945.

• Katman kalınlığı ölçümü

• ISO 25178 ve ISO 4287'ye göre yüzey metrolojisi, topografi, pürüzlülük ölçümü için konfokal mikroskopi modülü.

Cihaz, üretici tarafından önerilen özelliklere sahip ve cihaz yazılımı ile uyumlu, kullanıma hazır bir bilgisayara veya hepsi bir arada PC'ye sahip olacaktır.

Kurulum aşamasında

• Hitachi SU3500 T2 Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)

• Oxford XACT Elektron Dağılım Spektroskopisi (EDS)

     Teknik Özellikler için tıklayınız

• Demir ve demir dışı bulk/toz malzemeler, Seramik, kompozit, polimer vb. malzemelerin yüzey ve kesit görüntülemesi
• Boyut ve şekil karakterizasyonu
• Hasar analizleri
• 3 nm kadar mikroyapı görüntüleme
• İnklüzyon analizleri
• 3 nm çözünürlüğe kadar (numune uygunluğuna bağlı) inceleme ve analiz 
• Düşük vakum çalışmaları 

• Thermo Scientific, ARL 3460 OES  

     Teknik Özellikler için tıklayınız

• Elementel Analiz
• Kararlılık, düşük analiz limitler ve doğruluk.
• Ultra saftan yüksek alaşımlıya kadar bütün alüminyum alaşımları yüksek hassasiyette (1/100000) analiz edilebilmektedir.

• Temiz ve düz yüzeye sahip ve tel numuneler için minimum çap 3 mm olmalı.

• Shimadzu G21D      

     Teknik Özellikler için tıklayınız                   

• Metalik malzemeler, Kaplanmış malzemeler,  Isıl işlem görmüş yüzey ve kesitler, Seramikler için,
• 1 gr – 2000 gr yük hassasiyeti,
• Vickers ve Knoop yöntemleri ile sertlik ölçümü,
• Kırılma Tokluğu (Kc) hesaplanması.
• Numune kalınlığı 0,5 cm - 5 cm arası olmalıdır.

• Ernst AT250 Universal Sertlik Test Cihazı          Teknik Özellikler için tıklayınız                                                                   

• Alüminyum malzemelerin sertlik ölçümü
• Isıl işlem görmüş malzemelerde sertlik ölçümü
• Rockwell Ölçümleri: A-B-C skalaları, 60-100-150 kg yükleri ile yapılabilmektedir.
• Brinell Ölçümleri: HB5-HB10-HB30 skalaları, 62,5-125-187,5 yükleri ile yapılabilmektedir.                 

• Unıversal Sertlik Test Cihazı

• ISO 6506, ISO 6507, ISO 6508, ISO 4545, ASTM E10, ASTM E18 ve ASTM E384 standartlarına uygun kriterler,

  -Vickers, Knoop, Brinell ve Rockwell

  Cihaz, aşağıda belirtilen aşağıdaki girintilere sahip olacaktır:

  • 136° elmas Vickers girintisi

  • 2,5 mm ve/veya 5 mm bilyalı Brinell girintisi

  • 120° elmas Rockwell girintisi

Kurulum Aşamasında

      ALŞA 100kN Elektromekanik Cihaz

      Teknik Özellikler için tıklayınız              

• 0 – 14 mm ye kadar levha
• 0 – 16 mm’ye kadar dolu ve boş çubuk, (iç dolum aksesuarları olmak kaydıyla)
• 0 – 150 mm’ye kadar basma yüzeyi,
• 10 – 300 mm’ye kadar (mesnet açıklığı) yassı ürünlere 3 nokta eğme testi

• Çekme Basma 3 Nokta Eğme

Cihaz, ISO 6892, ISO 7438 ve ISO 9513 standartlarına uygun analiz yapabilmektedir.

• 100 KN kapasite
• (-50 ile +250 ºC) geniş aralıklarda çekme testleri           
• Ekstansometreli analizler                    

Kurulum Aşamasında

Numune Özellikleri:

1. Çekme Testi için numuneler TS EN ISO 6892-1 standardına göre hazırlanmış olmalıdır.
2. Basma Testi için (Numune Yüksekliği = 1,5 x Numune Çapı) olmalıdır.

Discovery SDT 650 ile malzemelerin ağırlık değişimi ve ısı akışı eş zamanlı olarak sıcaklık ve/veya zamanın bir fonksiyonu olarak ölçülebilmektedir. Polimer, polimer kompozit malzemeler için nem, uçucu bileşenler ve katkı malzemesi miktarları belirlenebilmektedir.

• ​TA, Discovery SDT 650  

      Teknik Özellikler için tıklayınız 

• Ergime noktası
• Ağırlık değişimi
• Faz dönüşümü
• Isı kapasitesi (Cp) ölçümü (ortam sıcaklığı-1500 °C aralığında)
• Camsı geçiş, kristalizasyon, bozulma sıcaklığı
• Kül oranı ve katkı miktarı
• 1500 °C'ye ulaşabilen fırın sıcaklığı (Sıcaklık Kalibrasyonu Curie Noktası (ASTM E1582))
• Dinamik sıcaklık hassasiyeti ± 0,5 °C
• Isıtma hızı (doğrusal) 0,1 ila 100 °C/dakika
• Kalorimetrik doğruluk/hassasiyet ± %2 (metal standartlarına göre)
• Isı kapasitesi doğruluk ± %5
• Tartı doğruluğu ± %0,5
• Tartım Hassasiyeti ± %0,1
• Ağırlık Baz Çizgisi Kayması [1] <50 μg ila 1000 °C ve <50 μg 1000 ila 1500 °C
• Modüle DSC

Numune Özellikleri:

• Katı malzemelerden oluşur ve numune ağırlığı maksimum 200 mg olmalıdır.

• Tribometre                      

ASTM G99 ve ASTM G133 test standartlarına uygun analiz

• Sürtünme çözünürlüğü 10 nm
• 400 °C üzeri sıcaklıklarda aşınma testi

Kurulum aşamasında

Numune Özellikleri:

• ​Çizik testi            

ISO 20502, ASTM C1624 ve ASTM G171 standartlarına uygun analiz yapabilme

• 80 N ve üzeri yük hücresi
• 5x, 20x, 50x büyütmede lensler mevcuttur.
• Rockwell C Elmas Uç, yarıçap 50µm
• Rockwell C Elmas Uç, yarıçap 200µm uçlara sahiptir.

Kurulum Aşamasında